logo
Хорошая цена  онлайн

Подробная информация о продукции

Created with Pixso. Дом Created with Pixso. ПРОДУКТЫ Created with Pixso.
Субстрат SiC
Created with Pixso. 4H Карбид кремния (SiC) подложка для силовой электроники, радиочастотных устройств и УФ оптоэлектроники

4H Карбид кремния (SiC) подложка для силовой электроники, радиочастотных устройств и УФ оптоэлектроники

Наименование марки: ZMSH
MOQ: 10
Время доставки: 2-4 недели
Условия оплаты: Т/Т
Подробная информация
Место происхождения:
Шанхай, Китай
Материал:
Монокристалл 4H-SiC (тип N)
Размеры:
10×10 мм (±0,05 мм)
Варианты толщины:
100–500 мкм
Ориентация:
(0001) ± 0,5°
Качество поверхности:
CMP / Полированный, Ra ≤ 0,5 нм
Цвет:
Цвет поверхности зеленого чая (типичный SiC)
Удельное сопротивление:
0,01–0,1 Ом·см
Дефекты:
MPD < 1 см⁻²
Характер продукции

Субстрат из карбида кремния 4H для силовой электроники, радиочастотных устройств и УФ-оптоэлектроники


Обзор продукции


Это...4H-SiC субстратпредставляет собой высокочистый однокристаллический карбид кремния, предназначенный для передовой силовой электроники, радиочастотных устройств и оптоэлектронных приложений.Произведены методом PVT и закончены с точной полировкой CMP, каждый субстрат имеет сверхнизкую плотность дефектов, отличную теплопроводность и стабильные электрические характеристики.


Его компактный размер идеально подходит для исследований и разработок, создания прототипов устройств, лабораторных испытаний и малого производства.


4H Карбид кремния (SiC) подложка для силовой электроники, радиочастотных устройств и УФ оптоэлектроники 04H Карбид кремния (SiC) подложка для силовой электроники, радиочастотных устройств и УФ оптоэлектроники 1

Ключевые особенности

✔ Кристаллы высокого качества

  • Политип:4H-SiC

  • Проводимость:Допированный N-типом

  • Плотность микротруб (MPD):< 1 см−2

  • Плотность дислокации:< 104 см−2


✔ Ультрагладкие полированные поверхности

  • Си-лист (CMP):Ra ≤ 0,5 нм

  • С-линия (полированная):Ra ≤ 1 нм

  • Подготовленная к эпитаксии отделка для высококачественного эпитаксиального роста


✔ Устойчивые электрические свойства

  • Сопротивляемость:00,01·0,1 Ω·см

  • Концентрация носителя:1×1018 5×1019 см−3

  • Идеально подходит для высоковольтных и высокочастотных устройств


✔ Отличная тепловая производительность

  • Теплопроводность:490 W/m·K

  • Возможность работы при температуре:до 600°C

  • Низкий коэффициент теплового расширения:4.0×10−6 /K


✔ Высокая механическая прочность

  • Твердость Викера:28 ∼ 32 ГПа

  • Прочность на изгибе:> 400 МПа

  • Долгий срок службы и отличная износостойкость


Технические спецификации


Категория Спецификация
Материал 4H-SiC однокристалл (N-тип)
Размеры 10×10 мм (±0,05 мм)
Опции толщины 100 ‰ 500 мкм
Ориентация (0001) ± 0,5°
Качество поверхности CMP / Полированный, Ra ≤ 0,5 нм
Сопротивляемость 00,01·0,1 Ω·см
Теплопроводность 490 W/m·K
Недостатки MPD < 1 см−2
Цвет Тонус поверхности зеленого чая (типичный для SiC)
Варианты оценки Прайм, Исследование, Дурак


Доступная настройка


  • Нестандартные размеры: 5 × 5 мм, 5 × 10 мм, Ø2 ≈ 8 дюймовые круглые подложки

  • Толщина:100 ‰ 500 мкм или по заказу

  • Ориентация: 4°, 8° или по оси

  • Поверхностная отделка: односторонняя / двусторонняя полировка

  • Допинг: N-тип, P-тип, полуизоляционный

  • Металлизация сзади


Области применения


1Электротехника

Идеально подходит для SiC MOSFET, SBD, диодов и прототипирования высоковольтных устройств.


2. Радиорадиовещательная и 5G инфраструктура

Используется для усилителей мощности RF (PA), коммутаторов и устройств с миллиметровыми волнами.


3. Новые энергетические транспортные средства

Поддерживает разработку инверторов электромобилей, исследования и разработки силовых модулей и тестирование широкополосного диапазона.


4Аэрокосмическая и оборонная промышленность

Высокотемпературные и радиоустойчивые электронные компоненты.


5. Оптоэлектроника

Ультрафиолетовые светодиоды, фотодиоды, лазерные диоды и структуры GaN на SiC.


6Университет и лаборатория НИОКР

Исследование материалов, эксперименты по эпитаксии, изготовление устройств.


Частые вопросы


1Каково главное преимущество 4H-SiC по сравнению с 6H-SiC?


4H-SiC предлагает более высокую мобильность электронов, более низкое сопротивление и превосходную производительность в высокомощных и высокочастотных устройствах.и продвинутые силовые модули.


2Вы предоставляете проводящие или полуизоляционные SiC субстраты?


Да, мы предлагаем проводящий 4H-SiC N-типа для силовой электроники и полуизоляционный 4H-SiC для применения в радиочастотных, микроволновых и УФ-детекторах.


3Может ли субстрат использоваться непосредственно для эпитаксии?


Да, наши готовые к эпитерапии 4H-SiC субстраты имеют полированные CMP Si-поверхности с низкой плотностью дефектов, подходящие для MOCVD, CVD и HVPE эпитаксиального роста GaN, AlN и SiC слоев.