Детали продукта
Место происхождения: Китай
Фирменное наименование: zmkj
Номер модели: 4H-N, 4inch
Условия оплаты и доставки
Количество мин заказа: 10пкс
Цена: by required
Упаковывая детали: Упакованный в окружающей среде чистой комнаты класса 100, в кассетах одиночных контейнеров вафли
Время доставки: 10-20дайс
Поставка способности: 100pcs/months
Материал: |
кристалл кремниевого карбида |
Размер: |
4инч |
Заявление: |
ранг кристалла семени |
Резистивность: |
0.015~0.028Ω.cm |
Тип: |
4х-н |
Толщина: |
1.6мм |
Поверхность: |
как-отрезок |
Ранг: |
Продукция |
Материал: |
кристалл кремниевого карбида |
Размер: |
4инч |
Заявление: |
ранг кристалла семени |
Резистивность: |
0.015~0.028Ω.cm |
Тип: |
4х-н |
Толщина: |
1.6мм |
Поверхность: |
как-отрезок |
Ранг: |
Продукция |
тип субстраты 4inch dia100m 4H-N SiC ранга ранга продукции ФИКТИВНЫЕ, субстраты кремниевого карбида для полупроводникового устройства,
подгонянные вафли sic кремниевого карбида толщины 4inch 4H-N кристаллические для ранга кристалла семени 4inch;
Карборунд вафли субстрата SiC кремниевого карбида кристаллический
СВОЙСТВА МАТЕРИАЛА КРЕМНИЕВОГО КАРБИДА
| Название продукта: | Субстрат кремниевого карбида (SiC) кристаллический | ||||||||||||||||||||||||
| Характер продукции: | 2-6inch | ||||||||||||||||||||||||
| Технические параметры: |
|
||||||||||||||||||||||||
| Спецификации: | 6H N типа 4H N типа полу-изолируя dia2 «x0.33mm, dia2» x0.43mm, dia2 '' x1mmt, ход 10x10mm, 10x5mm одиночный или двойной ход, Ра <10a> | ||||||||||||||||||||||||
| Стандартная упаковка: | чистая сумка 1000 чистая комната, 100 или одиночная упаковка коробки |
2. субстраты определяют размер стандарта
|
спецификация субстрата кремниевого карбида 4 дюймов диаметра (SiC) |
|||||||||
| Ранг | Нул рангов MPD | Ранг продукции | Ранг исследования | Фиктивная ранг | |||||
| Диаметр | 100,0 mm±0.5 mm | ||||||||
| Толщина | 350 μm±25μm (толщина 200-2000um также в порядке) | ||||||||
| Ориентация вафли | С оси: 4.0° к <1120> ±0.5° для 4H-N | ||||||||
| Плотность Micropipe | см-2 ≤1 | см-2 ≤5 | см-2 ≤15 | см-2 ≤50 | |||||
| Резистивность | 4H-N | 0.015~0.028 Ω•см | |||||||
| 6H-N | 0.02~0.1 Ω•см | ||||||||
| 4/6H-SI | ≥1E5 Ω·см | ||||||||
| Основная квартира и длина | {10-10} ±5.0°, 32,5 mm±2.0 mm | ||||||||
| Вторичная плоская длина | 18.0mm±2.0 mm | ||||||||
| Вторичная плоская ориентация | Кремний лицевой: 90° CW. от основного плоского ±5.0° | ||||||||
| Исключение края | 3 mm | ||||||||
| TTV/Bow /Warp | ≤15μm/≤25μm/≤40μm | ||||||||
| Шершавость | Польское Ra≤1 nm, CMP Ra≤0.5 nm | ||||||||
| Отказы светом высокой интенсивности | Никакие | 1 позволенный, ≤2 mm | Кумулятивное ≤ 10mm длины, одиночное length≤2mm | ||||||
| Плиты наговора светом высокой интенсивности | Кумулятивная область ≤1% | Кумулятивная область ≤1% | Кумулятивная область ≤3% | ||||||
| Зоны Polytype светом высокой интенсивности | Никакие | Кумулятивная область ≤2% | Кумулятивная область ≤5% | ||||||
| Царапины светом высокой интенсивности | 3 царапины к длине диаметра 1×wafer кумулятивной | 5 царапин к длине диаметра 1×wafer кумулятивной | 5 царапин к длине диаметра 1×wafer кумулятивной | ||||||
| обломок края | Никакие | 3 позволенного, ≤0.5 mm каждое | 5 позволенных, ≤1 mm каждое | ||||||
| Загрязнение светом высокой интенсивности | Никакие | ||||||||
Вафля Sic & слитки 2-6inch и другой подгонянный размер также смогите быть обеспечено.
дисплей детали 3.Products
Доставка & пакет
Q1. Ваша компания фабрика или торговая компания?
Мы фабрика и мы также можем сделать экспорт.
Q2.Is вы работа компании единственная с делом sic?
да; однако мы не растем кристалл sic собственной личностью.
Q3. Смогли вы поставить образец?
Да, мы можем поставить образец сапфира согласно требованию к клиента.
Q4. Вы имеете запас вафель sic?
мы обычно держим некоторые вафли sic нормального размера от вафель 2-6inch в запасе.
Q5.Where ваша компания обнаружена местонахождение?
Наша компания расположенная в Шанхае, Китае.
Q6. Сколько времени примет для того чтобы получить продукты?
Вообще оно будет принимать 3~4 недели для обработки. Он зависеть от количества и размера продуктов.
