Подробная информация о продукции

Дом ПРОДУКТЫ

основные 2" 3" 4" 6" 4h-Semi 4H-N изолируя вафлю sic кремниевого карбида субстрата Sic

Наименование марки:	zmkj
Номер модели:	особая чистота ООН-дала допинг 4h-semi
MOQ:	3ПКС
цена:	by required
Время доставки:	10-20дайс

Подробная информация

Характер продукции

Подробная информация

Место происхождения:

КИТАЙ

материал:

кристалл кремниевого карбида

размер:

3inch или 4inch

применение:

оптически

резистивность:

>1E7

тип:

4H-SEMI

Толщина:

0.5mm

поверхность:

DSP

Ориентация:

0° с c-оси

Упаковывая детали:

Упакованный в окружающей среде чистой комнаты класса 100, в кассетах одиночных контейнеров вафли

Поставка способности:

100pcs/months

Выделить:

0.5mm semi изолируя sic

Шестиугольное Xsemi изолируя sic

Вафля кремниевого карбида SiC

Характер продукции

основные 2" 3" 4" 6" 4h-Semi 4H-N изолируя вафлю sic кремниевого карбида субстрата Sic

Карборунд вафли субстрата SiC кремниевого карбида кристаллический

СВОЙСТВА МАТЕРИАЛА КРЕМНИЕВОГО КАРБИДА

Название продукта:

Субстрат кремниевого карбида (SiC) кристаллический

Характер продукции:

2-6inch

Технические параметры:

Клеточная структура	Шестиугольный
Решетка постоянн	= 3,08 Å c = 15,08 Å
Приоритеты	ABCACB (6H)
Метод роста	MOCVD
Направление	Ось роста или частично (° 0001) 3,5
Полировать	Полировать поверхности Si
Bandgap	eV 2,93 (косвенное)
Тип проводимости	N или seimi, особая чистота
Резистивность	0,076 ом-см
Permittivity	e (11) = e (22) = 9,66 e (33) = 10,33
Термальная проводимость @ 300K	5 с см. K
Твердость	9,2 Mohs

Спецификации:

6H N типа 4H N типа полу-изолируя dia2 «x0.33mm, dia2» x0.43mm, dia2 '' x1mmt, ход 10x10mm, 10x5mm одиночный или двойной ход, Ра <10a>

Стандартная упаковка:

чистая сумка 1000 чистая комната, 100 или одиночная упаковка коробки

Применение кремниевого карбида в индустрии прибора силы

Нитрид GaN галлия SiC кремниевого карбида Si кремния блока представления
EV зазора диапазона 1,12 3,26 3,41
Электрическое поле MV/cm нервного расстройства 0,23 2,2 3,3
Подвижность электрона cm^2/Vs 1400 950 1500
Перемещайтесь скорость 10^7 cm/s 1 2,7 2,5
Термальная проводимость W/cmK 1,5 3,8 1,3

Сравненный с приборами кремния (Si), приборы силы кремниевого карбида (SiC) могут эффектно достигнуть высокой эффективности, миниатюризации и легковеса систем силы электронных. Потери энергии приборов силы кремниевого карбида только 50% из этого из приборов Si, тепловыделение только 50% из этого из приборов кремния, и он имеет более сильнотоковую плотность. На таком же уровне силы, том модулей силы кремниевого карбида значительно более небольшой чем это из модулей силы кремния. Принимать умному модулю силы IPM в качестве примера, используя приборы силы кремниевого карбида, том модуля можно уменьшить до 1/3 к 2/3 из модулей силы кремния.

3 типа диодов силы кремниевого карбида: Диоды Schottky (SBD), диоды PIN и диоды Schottky управлением барьера соединения (JBS). Сбор к барьеру Schottky, SBD имеет более низкую высоту барьера соединения, поэтому SBD имеет преимущество низкого пропускного напряжения. Появление SBD кремниевого карбида увеличило ряд применения SBD от 250V к 1200V. В то же время, свои высокотемпературные характеристики хороши, от комнатной температуры к 175°C ограничивались раковиной, повышениями обратной утечки настоящими едва ли. В области применения выпрямителей тока над 3kV, PiN кремниевого карбида и диоды кремниевого карбида JBS привлекали внимание должное к их более высокому пробивному напряжению, более быстро переключая скорости, более небольшому тому и более светлому весу чем выпрямители тока кремния.

Кристалл SiC важный широкий-bandgap материал полупроводника. Из-за своей высокой термальной проводимости, высокий тариф дрейфа электронов, высокая прочность поля нервного расстройства и стабилизированные медицинский осмотр и химические свойства, он широко использован в высокой температуре, в электронных устройствах частоты коротковолнового диапазона и наивысшей мощности. Больше чем 200 типов кристаллов SiC которые были открыты до сих пор. Среди их, кристаллы 4H- и 6H-SiC коммерчески были поставлены. Они все принадлежат группе пункта 6mm и иметь второстепенное нелинейное оптически влияние. Полу-изолируя кристаллы SiC видимы и средни. Ультракрасный диапазон имеет более высокую пропускаемость. Поэтому, электронно-оптические приборы основанные на кристаллах SiC очень соответствующие для применений в весьма окружающих средах как высокая температура и высокое давление. был доказаны, что будет Полу-изолируя кристалл 4H-SiC новым Ном тип средний-ультракрасного нелинейного оптически кристалла. Сравненный с обыкновенно используемыми средний-ультракрасными нелинейными оптически кристаллами, кристалл SiC имеет широкий зазор диапазона (3.2eV) должный к кристаллу. , Высокая термальная проводимость (490W/m·K) и большая энергия скрепления (5eV) между si-C, делая SiC кристаллической имеют высокий порог повреждения лазера. Поэтому, полу-изолируя кристалл 4H-SiC как нелинейный кристалл преобразования частоты имеет очевидные преимущества в выводить наружу высокомощный средний-ультракрасный лазер. Таким образом, в поле высокомощных лазеров, кристалл SiC нелинейный оптически кристалл с широкими перспективами применения. Однако, настоящее исследование основанное на нелинейных свойствах кристаллов SiC и связанных применений пока не закончено. Эта работа принимает нелинейные оптически свойства кристаллов 4H- и 6H-SiC как основное содержание исследования, и направляет разрешить некоторые существенные вопросы кристаллов SiC по отоношению к нелинейным оптически свойствам, для того чтобы повысить применение кристаллов SiC в поле нелинейной оптики. Серия родственной работы была унесена теоретически и экспириментально. Основные результаты исследования следующим образом: 　　 Во-первых, основные нелинейные оптически свойства кристаллов SiC изучены. Была испытана была приспособлена переменная рефракция температуры кристаллов 4H- и 6H-SiC в видимых и средний-ультракрасных диапазонах (404.7nm~2325.4nm), и уравнение Sellmier переменного R.I. температуры. Теория одиночного генератора модельная была использована для того чтобы высчитать рассеивание термо--оптически коэффициента. Теоретическое объяснение дается; изучено влияние термо--оптического влияния на соответствовать участка кристаллов 4H- и 6H-SiC. Результаты показывают что соответствовать участка кристаллов 4H-SiC не повлиян на температурой, пока кристаллы 6H-SiC все еще не могут достигнуть соответствовать участка температуры. условие. К тому же, фактор удвоения частоты полу-изолировать кристалл 4H-SiC был испытан методом края создателя.　　 Во-вторых, изучают поколение параметра фемтосекунды оптически и представление амплификации кристалла 4H-SiC. Соответствовать участка, групповая скорость соответствуя, самый лучший не-коллинеарный угол и самая лучшая кристаллическая длина кристалла 4H-SiC нагнетенные лазером фемтосекунды 800nm теоретически проанализированы. Используя лазер фемтосекунды с длиной волны выхода 800nm ti: Лазер сапфира как источник насоса, используя двухступенную оптически параметрическую технологию амплификации, используя 3.1mm толстый полу-изолируя кристалл 4H-SiC как нелинейный оптически кристалл, под соответствовать участка 90°, в первый раз, средний-ультракрасный лазер разбивочной длине волны 3750nm, одиночная энергия в импульсе до 17μJ, и ширина ИМПа ульс 70fs был получен экспириментально. Лазер фемтосекунды 532nm использован как свет насоса, и кристалл SiC 90°, который участк-соответствуют для генерации света сигнала с длиной волны центра выхода 603nm через оптически параметры. В-третьих, изучено спектральное расширяя проведение полу-изолировать 4H-SiC кристаллическое как нелинейное оптически средство. Экспириментально результаты показывают что ширина полу-максимума расширенных повышений спектра с кристаллической длиной и случаем плотности мощности лазера на кристалле. Линейный рост может быть объяснен принципом модуляции само-участка, которая главным образом причинена разницей R.I. кристалла с интенсивностью света случая. В то же время, проанализировано что в масштабе времени фемтосекунды, нелинейный R.I. кристалла SiC может главным образом быть приписан к связанным электронам в кристалле и свободным электронам в зоне проводимости; и технология z-развертки использована предварительно для того чтобы изучить кристалл SiC под лазером 532nm. Нелинейная абсорбция и нелинейное представление R.I.

2. субстраты определяют размер стандарта

спецификация субстрата кремниевого карбида 4 дюймов диаметра (SiC)
Ранг		Нул рангов MPD	Ранг продукции	Ранг исследования	Фиктивная ранг
Диаметр		76,2 mm±0.3 mm или 100±0.5mm;
Толщина		500±25um
Ориентация вафли		0° с (0001) оси
Плотность Micropipe		см-2 ≤1	см-2 ≤5	см-2 ≤15	см-2 ≤50
Резистивность	4H-N	0.015~0.028 Ω•см
	6H-N	0.02~0.1 Ω•см
	4/6H-SI	≥1E7 Ω·см
Основная квартира и длина		{10-10} ±5.0°, 32,5 mm±2.0 mm
Вторичная плоская длина		18.0mm±2.0 mm
Вторичная плоская ориентация		Кремний лицевой: 90° CW. от основного плоского ±5.0°
Исключение края		3 mm
TTV/Bow /Warp		≤15μm/≤25μm/≤40μm
Шершавость		Польское Ra≤1 nm, CMP Ra≤0.5 nm
Отказы светом высокой интенсивности		Никакие		1 позволенный, ≤2 mm	Кумулятивное ≤ 10mm длины, одиночное length≤2mm

Плиты наговора светом высокой интенсивности		Кумулятивная область ≤1%		Кумулятивная область ≤1%	Кумулятивная область ≤3%
Зоны Polytype светом высокой интенсивности		Никакие		Кумулятивная область ≤2%	Кумулятивная область ≤5%

Вафля Sic & слитки 2-6inch и другой подгонянный размер также смогите быть обеспечено.

дисплей детали 3.Products

основные 2" 3" 4" 6" 4h-Semi 4H-N изолируя вафлю sic кремниевого карбида субстрата Sic 0

основные 2" 3" 4" 6" 4h-Semi 4H-N изолируя вафлю sic кремниевого карбида субстрата Sic 1

Доставка & пакет

основные 2" 3" 4" 6" 4h-Semi 4H-N изолируя вафлю sic кремниевого карбида субстрата Sic 3

вопросы и ответы

Q1. Ваша компания фабрика или торговая компания?
Мы фабрика и мы также можем сделать экспорт.
Q2.Is вы работа компании единственная с делом sic?
да; однако мы не растем кристалл sic собственной личностью.
Q3. Смогли вы поставить образец?
Да, мы можем поставить образец сапфира согласно требованию к клиента
Q4. Вы имеете запас вафель sic?
мы обычно держим некоторые вафли sic нормального размера от вафель 2-6inch в запасе
Q5.Where ваша обнаруженная местонахождение компания.
Наша компания расположенная в Шанхае, Китае.
Q6. Сколько времени примет для того чтобы получить продукты.
Вообще оно будет принимать 3~4 недели для обработки. Он зависеть от и размера продуктов.

Бирки:

Вафля нитрида галлия

Вафля сапфира

Субстрат SiC

Сапфир оптически Виндовс

Кремниевая пластина ИК

Синтетический сапфир штанга

Плита плавленного кварца

Части сапфира

Синтетическая драгоценная камень

Оборудование полупроводника

Вафля LiNbO3

Вафля GaAs

Вафля фосфида индия

керамический субстрат

Оболочка лаборатории

Вафля нитрида галлия

Вафля сапфира

Субстрат SiC

Сапфир оптически Виндовс

Кремниевая пластина ИК

Синтетический сапфир штанга

Плита плавленного кварца

Части сапфира

Синтетическая драгоценная камень

Оборудование полупроводника

Вафля LiNbO3

Вафля GaAs

Вафля фосфида индия

керамический субстрат

Оболочка лаборатории

Подробная информация о продукции

основные 2" 3" 4" 6" 4h-Semi 4H-N изолируя вафлю sic кремниевого карбида субстрата Sic

0.5mm semi изолируя sic

Шестиугольное Xsemi изолируя sic

Вафля кремниевого карбида SiC

вафля сик

субстрат сик

субстрат кремниевого карбида

HPSI SiC Wafer 2-12 дюймовый оптический класс для очков AI / AR

Оптический компонент зеркала SiC высокой чистоты с двойной стороной для микрозеркала MEMS