| Наименование марки: | ZMSH |
| MOQ: | 100 |
| Время доставки: | 2-4 НЕДЕЛИ |
| Условия оплаты: | Т/Т |
Эта 4-дюймовая (100 мм) кремниевая пластина N-типа, P-легированная, с <100> кристаллографической ориентацией покрыта адгезионным слоем титана (Ti) толщиной 100 нм и проводящим слоем меди (Cu) толщиной 200 нм.
Слой Ti служит прочным адгезионным буфером и диффузионным барьером, улучшая прикрепление пленки Cu и термическую стабильность. Слой Cu обеспечивает высокую электропроводность, что делает эту пластину подходящей для микроэлектроники, устройств MEMS, датчиков и исследовательских приложений.
![]()
![]()
Пластина отполирована с одной стороны (SSP) и поставляется в упаковке для чистых помещений, чтобы обеспечить отсутствие загрязнений при работе для прецизионных применений.
Тонкопленочная структура оптимизирована для достижения равномерной толщины, стабильных электрических характеристик и надежной адгезии. Пластина идеально подходит для применений, требующих высококачественного интерфейса Cu/Ti на кремниевых подложках.
| Спецификация | Размер пластины |
|---|---|
| Диаметр 4 дюйма × толщина 0,525 мм | Тип пластины |
| Премиум-класс, N-тип, P-легированный | Кристаллографическая ориентация |
| Полировка | <100> |
| Односторонняя полировка (SSP) | Толщина адгезионного слоя Ti |
| 100 нм | Толщина проводящего слоя Cu |
| 200 нм | Структура пленки Cu |
| Поликристаллическая, равномерное осаждение | Удельное электрическое сопротивление |
| 1–10 Ом·см | Шероховатость поверхности |
| Как выращено (типично, не указано) | Метод осаждения |
| Высоковакуумное PVD (распыление или электронно-лучевое) | Упаковка |
| Одна пластина в пластиковом пакете 100-го класса внутри чистого помещения 1000-го класса | Применения |
Микроструктуры и электроды MEMS
Датчики и контактные площадки
Исследования и разработки в области тонкопленочной электроники
Высокопроводящие тестовые пластины для микропроизводства
Основные характеристики
Слой Cu толщиной 200 нм обеспечивает низкоомный проводящий путь
Слой Ti действует как диффузионный барьер для улучшения термической стабильности
Осаждение PVD обеспечивает стабильную толщину и качество поверхности
Упаковка для чистых помещений поддерживает чистоту и целостность пластины
Примечания по использованию и хранению
Для высокотемпературной обработки оптимизируйте условия для предотвращения взаимной диффузии Cu/Si
Хранить в сухой среде с низким напряжением для поддержания целостности тонкой пленки
Избегайте прямого контакта с покрытой поверхностью
FAQ
Адгезионный слой Ti и проводящий слой Cu осаждаются с использованием методов PVD в высоком вакууме, обеспечивая
равномерную толщину по всей 4-дюймовой пластине. Толщина пленки Cu составляет 200 нм, а слоя Ti - 100 нм, с минимальными изменениями, подходящими для микроэлектроники и исследовательских приложений.
2. Можно ли использовать эту пластину в высокотемпературных процессах?
Да, но рекомендуется соблюдать меры предосторожности. Слой Ti действует как диффузионный барьер, предотвращающий диффузию Cu в кремниевую подложку. Рекомендуется оптимизировать температуру и условия обработки для поддержания целостности и однородности пленки.
3. Как следует хранить и обрабатывать пластину?
Пластину следует обрабатывать в чистом помещении или среде с низким содержанием пыли, чтобы избежать загрязнения. Хранить в сухой среде с низким напряжением. Избегайте прямого прикосновения к покрытой поверхности. Каждая пластина поставляется в пластиковом пакете 100-го класса внутри упаковки для чистых помещений 1000-го класса.
Сопутствующие товары