logo
Хорошая цена  онлайн

Подробная информация о продукции

Created with Pixso. Дом Created with Pixso. ПРОДУКТЫ Created with Pixso.
Кремниевая пластина ИК
Created with Pixso. 4-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer

4-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer

Наименование марки: ZMSH
MOQ: 100
Время доставки: 2-4 НЕДЕЛИ
Условия оплаты: Т/Т
Подробная информация
Место происхождения:
ШАНХАЙ, КИТАЙ
Размер вафли:
Диаметр 4 дюйма × толщина 0,525 мм
Тип вафеля:
Prime Grade, N-тип, легированный P
Кристаллическая ориентация:
<100>
Толщина адгезионного слоя Ti:
100 Нм
Толщина проводящего слоя Cu:
200 Nm
Структура медной пленки:
Поликристаллическое, равномерное осаждение
Электрическое удельное сопротивление:
1–10 Ом·см
Шероховатость поверхности:
По мере роста (типично, не указано)
Способ отложения:
Высоковакуумное PVD (напыление или электронно-лучевое напыление)
Выделить:

4-дюймовый N-Type Si вафля

,

П-допированный Си пластинка с Cu пленкой

,

Ти/Силиконовый пластинка с тонкой пленкой

Характер продукции

4-дюймовая N-типа P-легированная Si (100) с тонкой пленкой 100 нм Ti + 200 нм Cu на Ti/кремниевой подложке

Обзор продукта


Эта 4-дюймовая (100 мм) кремниевая пластина N-типа, P-легированная, с <100> кристаллографической ориентацией покрыта адгезионным слоем титана (Ti) толщиной 100 нм и проводящим слоем меди (Cu) толщиной 200 нм.


Слой Ti служит прочным адгезионным буфером и диффузионным барьером, улучшая прикрепление пленки Cu и термическую стабильность. Слой Cu обеспечивает высокую электропроводность, что делает эту пластину подходящей для микроэлектроники, устройств MEMS, датчиков и исследовательских приложений.


4-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer 04-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer 1



Пластина отполирована с одной стороны (SSP) и поставляется в упаковке для чистых помещений, чтобы обеспечить отсутствие загрязнений при работе для прецизионных применений.


Тонкопленочная структура оптимизирована для достижения равномерной толщины, стабильных электрических характеристик и надежной адгезии. Пластина идеально подходит для применений, требующих высококачественного интерфейса Cu/Ti на кремниевых подложках.


ХарактеристикиПараметр


Спецификация Размер пластины
Диаметр 4 дюйма × толщина 0,525 мм Тип пластины
Премиум-класс, N-тип, P-легированный Кристаллографическая ориентация
Полировка <100>
Односторонняя полировка (SSP) Толщина адгезионного слоя Ti
100 нм Толщина проводящего слоя Cu
200 нм Структура пленки Cu
Поликристаллическая, равномерное осаждение Удельное электрическое сопротивление
1–10 Ом·см Шероховатость поверхности
Как выращено (типично, не указано) Метод осаждения
Высоковакуумное PVD (распыление или электронно-лучевое) Упаковка
Одна пластина в пластиковом пакете 100-го класса внутри чистого помещения 1000-го класса Применения


Межсоединительные слои полупроводников


  • Микроструктуры и электроды MEMS

  • Датчики и контактные площадки

  • Исследования и разработки в области тонкопленочной электроники

  • Высокопроводящие тестовые пластины для микропроизводства

  • Основные характеристики


Адгезионный слой Ti обеспечивает прочное соединение Cu-Si4-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer 2


  • Слой Cu толщиной 200 нм обеспечивает низкоомный проводящий путь

  • Слой Ti действует как диффузионный барьер для улучшения термической стабильности

  • Осаждение PVD обеспечивает стабильную толщину и качество поверхности

  • Упаковка для чистых помещений поддерживает чистоту и целостность пластины

  • Примечания по использованию и хранению


Обрабатывать в чистом помещении или среде с низким содержанием пыли


  • Для высокотемпературной обработки оптимизируйте условия для предотвращения взаимной диффузии Cu/Si

  • Хранить в сухой среде с низким напряжением для поддержания целостности тонкой пленки

  • Избегайте прямого контакта с покрытой поверхностью

  • FAQ


1. Какова однородность тонких пленок Cu/Ti на пластине?


Адгезионный слой Ti и проводящий слой Cu осаждаются с использованием методов PVD в высоком вакууме, обеспечивая
равномерную толщину по всей 4-дюймовой пластине. Толщина пленки Cu составляет 200 нм, а слоя Ti - 100 нм, с минимальными изменениями, подходящими для микроэлектроники и исследовательских приложений.4-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer 32. Можно ли использовать эту пластину в высокотемпературных процессах?


Да, но рекомендуется соблюдать меры предосторожности. Слой Ti действует как диффузионный барьер, предотвращающий диффузию Cu в кремниевую подложку. Рекомендуется оптимизировать температуру и условия обработки для поддержания целостности и однородности пленки.
3. Как следует хранить и обрабатывать пластину?


Пластину следует обрабатывать в чистом помещении или среде с низким содержанием пыли, чтобы избежать загрязнения. Хранить в сухой среде с низким напряжением. Избегайте прямого прикосновения к покрытой поверхности. Каждая пластина поставляется в пластиковом пакете 100-го класса внутри упаковки для чистых помещений 1000-го класса.
Сопутствующие товары


Кремниевые пластины с золотым покрытием Si 2 дюйма 4 дюйма 6 дюймов 8 дюймов Материалы для металлического покрытия Au

4-дюймовый N-Type P-Doped Si (100) с 100 нм Ti + 200 нм Cu Thin Film Cu Film на Ti/Silicon Wafer 4