logo
ПРОДУКТЫ
ПРОДУКТЫ
Дом > ПРОДУКТЫ > Субстрат SiC > 4-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах

4-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах

Детали продукта

Place of Origin: CHINA

Фирменное наименование: ZMSH

Сертификация: rohs

Model Number: SiCOI Wafers

Условия оплаты и доставки

Цена: by case

Delivery Time: 2-4weeks

Payment Terms: T/T

Получите самую лучшую цену
Выделить:

8 дюймовые 4H-SiCOI вафли

,

4 дюймовые 4H-SiCOI вафли

,

6 дюймовые 4H-SiCOI вафли

Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
Size:
4inch/6inch/8inch
Surface Roughness:
Ra<0.5nm
Fracture Toughness:
3.5 MPa·m¹/²
CTE (4H-SiC):
4.2×10⁻⁶/K
Resistivity (SI):
>1×10⁶ Ω·cm
Application:
Power electronics, radio frequency and 5G communication
4-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах

 

АннотацияВафли SiCOI

 

 

 

4-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах

 

Пластинки SICOI (Силиконовый карбид на изоляторе) представляют собой передовую технологию композитной подложки, изготовленную с помощью процессов Smart CutTM или Bonding & Thinning. ZMSH supply 4-6 inch 4H-SICOI wafers by integrating high-quality SiC thin films with insulating layers (SiO₂/AlN) on silicon or SiC substrates via hydrophilic bonding or plasma-activated bonding techniques. Процесс Smart CutTM: использует имплантацию ионов водорода, связывание при низкой температуре и точное очищение для достижения сверхтонких слоев SiC (50nm-20μm) с однородностью толщины ±20nm,идеально подходит для высокочастотныхУстройства с низкими потерями. Процесс шлифования + CMP: Подходит для требований более толстой пленки (200 нм до специальных толщин) с однородностью ± 100 нм, обеспечивая экономическую эффективность для применений в силовой электронике. ZMSH обеспечивают настраиваемые проводящие или полуизоляционные пленки SiC,с возможностью оптимизации ионной имплантации отжига или прямого истончения/полирования для удовлетворения различных требований к производительности и стоимости.

 

 


 

Ключевые особенностиВафли SiCOI

 

 

Компонент Недвижимость Спецификация Стандарт измерений
4H-SiC пленка Структура кристалла Однокристаллический 4H-SiC АСТМ F2094
Плотность дефектов <103 см−2 (вывих кожи)  
Грубость поверхности (Ra) <0,5 нм Измерение AFM
Полуизоляционное сопротивление > 106 Ω·cm SEMI MF397
Допинговый диапазон типа N 1016-1019 см−3  
Теплопроводность > 300 Вт/м·К  
SiO2 слой Метод формирования Тепловое окисление  
Диэлектрическая постоянная (ε) 3.9 JESD22-A109
Сила поля разрыва > 10 МВ/см  
Плотность интерфейсной ловушки < 1011 см-2eV-1  
Si Субстрат Тепловое расширение (CTE) ~3,5×10−6/°C  
Вафельная дуга (8 дюймов) < 50 мкм SEMI M1
Температурная устойчивость > 300°C  
Интегрированная производительность Поддержка размера пластинки Форматы 4-8 дюймов  

 

 


 

Основные примененияВафли SiCOI

 

 

4-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах 0

1Электротехника

 

Инверторы EV: SiC MOSFET на подложках SICOI работают на 1200V с 30% меньшими потерями переключения, совместимы с системами быстрой зарядки 800V.

Промышленные двигатели: пластинки SICOI с изоляционными слоями AlN повышают рассеивание тепла на 50%, поддерживая упаковку модулей > 10 кВт.

 

 

2. РЧ и 5G связи

 

Усилители мощности мм-волн: GaN HEMT на полуизолирующих SICOI достигают выхода 8W/mm на частоте 28GHz с эффективностью >65%.

Антенны фазового массива: Низкая диэлектрическая потеря (tanδ<0,001) минимизирует ослабление сигнала для спутниковой связи.

 

 

3Квантовые вычисления и сенсорные технологии

 

Spin Qubit Carriers: Ультратонкие пленки SiC (<100 нм) обеспечивают низкошумные среды, увеличивая время когерентности за пределы 1 мс.

Сенсоры MEMS высокой температуры: стабильная работа при температуре 300°C для мониторинга авиационных двигателей.

 

 

4Потребительская электроника

 

IC с быстрой зарядкой: устройства GaN на базе SICOI позволяют заряжать > 200 Вт при 40% меньшем объеме зарядки.

 

 


 

Услуги ZMSH

 

 

Как ведущий поставщик полупроводниковых субстратов широкой полосы пропускания, мы предлагаем полную техническую поддержку от НИОКР до серийного производства:

· Разработка на заказ: оптимизация толщины пленки SiC (наномасштаб до микронов), допинга (N/P-тип) и изоляционных слоев (SiO2/AlN/Si3N4) в зависимости от требований устройства.

· Консультации по процессу: Рекомендуйте решения Smart CutTM (высокая точность) или Grinding+CMP (рентабельность) с сравнительными данными.

· Испытания на уровне пластинки: включает анализ состояния интерфейса, картографирование теплового сопротивления и проверку надежности высокого напряжения.

 

 

 

4-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах 14-дюймовые 6-дюймовые 8-дюймовые 4-H-SiCOI пластинки композитный SiC на изоляторных субстратах 2

 

 


 

Вопросы и ответы

 

 

1. Вопрос: Что такое SICOI-вофли?
A: SICOI (Силиконовый карбид на изоляторе) - это продвинутый композитный субстрат, интегрирующий однокристаллическую пленку 4H-SiC с изоляционным слоем SiO2 на основе кремния / сапфира.позволяет использовать высокомощные и радиочастотные устройства с превосходными тепловыми/электрическими характеристиками.

 

 

2. Вопрос: Как SICOI сравнивается с SOI?
A: SICOI предлагает в 5 раз более высокую теплопроводность (> 300 Вт / м · К) и в 3 раза большее разрывное напряжение (> 8 МВ / см) чем SOI, что делает его идеальным для электротехники мощностью 800 В + и приложений 5G mmWave.

 

 


Тэг:4 дюйма 6 дюймов 8 дюймов# На заказ, #Вафли из 4H-SiCOI#Композитный SiC на изоляторных субстратах, #SiC, #SiO2, #Si

  

 

 

Аналогичные продукты